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全波段光谱测量系统

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全波段光谱测量系统,透射角分布测量,不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构,双层平台独立旋转,重复定位精度0.005°,分辨率0.00125°

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光谱角分布测量系统

 全波段光谱透过率测量,透射角分布测量

 全波段光谱反射率测量,反射角分布测量

 波长范围:200nm-IR

 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构

 双层平台独立旋转,重复定位精度0.005°,分辨率0.00125°

 样品置于上层旋台,探测器置于下层旋台,样品和探测器可以任意角度工作

 台面上放置一个五维调整镜座,可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面

 功能扩展:测量光栅衍射效率

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